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Clear, James: Atomic HabitsAtomic Habits , An Easy & Proven Way to Build Good Habits & Break Bad Ones , Bremsbacken > Bremsen & Bremsenteile , Erscheinungsjahr: 20181016, Produktform: Leinen, Autoren: Clear, James, Seitenzahl/Blattzahl: 320, Themenüberschrift: BUSINESS & ECONOMICS / Organizational Behavior, Keyword: business;books;psychology;self help;self care book;inspirational books;popular books;booktok;self improvement books;self help books for men;motivational books;leadership books;habits;self help books;habit;top books;motivation;self help books for women;audible books;audiobooks;best seller books;best selling books;bestseller books;mental health;psychology books;mindset book;stop overthinking;self care gifts;self love books for women;books for men;books for women;ebook;trauma;business books, Fachschema: Englische Bücher / Wirtschaft, Business~Führungskraft~Manager / Führungskraft~Business / Management~Management~Organisationstheorie~Hilfe / Lebenshilfe~Lebenshilfe~Psychologie / Sozial~Sozialpsychologie, Fachkategorie: Organisationstheorie und -verhalten~Selbsthilfe und Persönlichkeitsentwicklung~Sozialpsychologie, Imprint-Titels: Avery, Warengruppe: HC/Wirtschaft/Management, Fachkategorie: Management und Managementtechniken, Text Sprache: eng, UNSPSC: 49019900, Warenverzeichnis für die Außenhandelsstatistik: 49019900, Verlag: Penguin LLC US, Verlag: Penguin LLC US, Länge: 232, Breite: 160, Höhe: 33, Gewicht: 518, Produktform: Gebunden, Genre: Importe, Genre: Importe, Herkunftsland: VEREINIGTE STAATEN VON AMERIKA (US), Katalog: LIB_ENBOOK, Katalog: Gesamtkatalog, Katalog: Internationale Lagertitel, Katalog: internationale Titel, Katalog: Kennzeichnung von Titeln mit einer Relevanz > 30, Katalog: Lagerartikel, Book on Demand, ausgew. Medienartikel, Relevanz: 0800, Tendenz: +1, Unterkatalog: AK, Unterkatalog: Bücher, Unterkatalog: Hardcover, Unterkatalog: Lagerartikel, WolkenId: 240532422,59 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Springer Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching (Englisch, Hardcover, Gerd Kaupp) (9783540284055)Springer Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching (Englisch, Hardcover, Gerd Kaupp) (9783540284055)213,99 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
Springer Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching (Englisch, Softcover, Gerd Kaupp) (55374303)
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Atomic Force Microscopy, Fachbücher von Bert Voigtländer
Das Buch "Atomic Force Microscopy" von Bert Voigtländer bietet eine umfassende Einführung in die Betriebsprinzipien der Rasterkraftmikroskopie. Es zielt darauf ab, den Leser in die Lage zu versetzen, ein Rastersondenmikroskop erfolgreich zu bedienen und die gewonnenen Daten zu verstehen. Diese überarbeitete und erweiterte zweite Auflage des vorherigen Werkes "Scanning Probe Microscopy" stellt eine bedeutende Erweiterung des Kapitels zur Rasterkraftmikroskopie dar. Das Buch behandelt sowohl grundlegende als auch wichtige technische Aspekte der Rasterkraftmikroskopie und legt den Fokus auf die Prinzipien der Methoden, die auf eine didaktische und leicht verständliche Weise präsentiert werden. Es richtet sich in erster Linie an Studierende der Physik, Materialwissenschaften, Chemie, Nanowissenschaften und Ingenieurwissenschaften, ist jedoch auch für Fachleute und Neueinsteiger in diesem Bereich von Nutzen und dient als ideales Nachschlagewerk in jedem Labor für Rasterkraftmikroskopie.
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Atomic Force Microscopy, Fachbücher von Bert VoigtländerDas Buch "Atomic Force Microscopy" von Bert Voigtländer bietet eine umfassende Einführung in die Betriebsprinzipien der Rasterkraftmikroskopie. Es zielt darauf ab, den Leser in die Lage zu versetzen, ein Rastersondenmikroskop erfolgreich zu bedienen und die gewonnenen Daten zu verstehen. Diese überarbeitete und erweiterte zweite Auflage des vorherigen Werkes "Scanning Probe Microscopy" stellt eine bedeutende Erweiterung des Kapitels zur Rasterkraftmikroskopie dar. Das Buch behandelt sowohl grundlegende als auch wichtige technische Aspekte der Rasterkraftmikroskopie und legt den Fokus auf die Prinzipien der Methoden, die auf eine didaktische und leicht verständliche Weise präsentiert werden. Es richtet sich in erster Linie an Studierende der Physik, Materialwissenschaften, Chemie, Nanowissenschaften und Ingenieurwissenschaften, ist jedoch auch für Fachleute und Neueinsteiger in diesem Bereich von Nutzen und dient als ideales Nachschlagewerk in jedem Labor für Rasterkraftmikroskopie.181,89 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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